手持式電阻率測(cè)試儀/方塊電阻率儀 型號(hào);DP-M3

概述      DP-M3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量儀器。該儀器符合單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
      成套組成：由MDP-M3主機(jī)、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
      探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。配探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
      《四探針探頭特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊入
儀器具有測(cè)量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本參數(shù)1. 測(cè)量范圍、分辨率
    電    阻:   0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
    電 阻 率:   0.010～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm
    方塊電阻:   0.050～ 100.0kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測(cè)材料尺寸
   手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下：
    直    徑：SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～1DP-M30mm。
    SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。
    長()度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。.
    測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
 量程劃分及誤差等級(jí)

4) 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈   重：≤0.3kg